MTF 与 FWHM 分析
独立进行点源 MTF 与线斜坡 FWHM / 层厚分析。
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1. 选择方式
服务 → MTF 分析微珠或垂直细丝截面的平面分辨率，默认使用二维背景校正和边缘加权 FFT，MTF50/10 分别从实测频谱求取，保留真实超调。ROI 应包含完整点源及周围背景，点击 ！ 查看边界敏感性与质量提示。旁边的 FWHM 独立测量线斜坡的半高宽和层厚，支持高斯拟合或半高交点法。两者的 ROI、分析方式、结果和重置互不影响，切换入口保留各自状态。
2. 框选与调整
微珠 / 细丝截面：框住一个亮目标及周围背景，正方形 ROI 至少 8×8 像素。斜坡线：选择 水平 X / 垂直 Y，沿单根线框选窄矩形，两端留足背景，沿线至少 8 像素；横向平均范围由 ROI 决定，旋转或多根斜坡不适用。拖内部移动、拖角点改大小，松开计算。
3. 读取结果
MTF 显示 X/Y 曲线及 MTF50 / MTF10；FWHM 显示半高宽和 Slice Thickness = FWHM × tan θ。分析方式与剖面 默认收起，展开可切换高斯拟合 / 半高交点并查看剖面。默认 θ=23°，可在 设置 → 服务工具 → FWHM 改为 45°。单斜坡结果未作模体倾斜校正，不以 DICOM 标称层厚替代实测值，也不表示层间距。点击 ！ 查看计算说明与质量提示。MTF 单位可选 lp/mm 或 lp/cm；FWHM 与层厚均为 mm。
结果边界
返回原层可恢复 ROI，重置 MTF 清除当前视口 MTF 结果。未做有限目标尺寸修正，不支持跨层平均或 MPR 分析，不自动判定合格。